例1:47E860A型机(8A10机芯),显示开机画面后自动重启。分析检修:此故障原因是前期的软件不稳定,用后期软件升级即可。

       例2:42L28RM型机(8G28机芯),不开机。分析检修:经检测发现,主板各供电电压均正常,但上屏电压为0V,这可能和系统的运行程序有关。拆下SPI芯片,重新烧写程序,装上后测得屏供电和LVDS信号正常,但开机画面没有字符(蓝屏)。根据以前的维修经验,这种现象是DDR与主芯片通讯异常所致。用万用表的二极管挡测试DDR与主芯片之间的排阻,发现RN15损坏。更换RN15后故障排除。提示:此机易出现蓝屏故障,其原因有以下几点:(1)程序异常;(2)DDR损坏;(3)排阻坏或漏电(很多板上的排阻都涂有硅胶,长时间后排阻易变质)。

       例3:42L02RF型机(8G29机芯),热机死机。分析检修:热机时测量各供电电压,发现内核、复位、总线电压均正常,但DDR供电的前一级供电偏高,在4V左右(正常电压在3.35V )。对这路供电进行排查,发现R353、C381异常,换新后试机,故障排除。

       例4:55E550E型机(8K50机芯),不开机。分析检修:将机芯板连接电脑,查看打印信息显示如下:

       根据以上信息得知:主控系统与DDR之间的通讯不良。测得DDR供电与基准电压都正常,外围也没有元件损坏。更换DDR后,打印信息恢复正常,故障排除。

       例5:50E550D型机(8K50机芯),不开机。分析检修:查看打印信息,无打印信息显示;测试芯片的供电也都正常。检查主板的工作条件,测得各供电正常,复位电压只有2.25V ( 正常电压为3.3V)。主芯片U1的复位端外接有两只三极管QM2.QM3和两只电容。把QM2.QM3一起更换后试机,故障排除。提示:QM2、QM3 必须一起更换, 若只换一只,故障易复发。另外,若U1损坏,也会造成复位电压偏低。

       例6:42E680E型机(8K55机芯),出现开机画面后死机,随后自动重启,如此反复。分析检修:怀疑程序异常,用u盘升级后,可以开机,约10分钟后故障重现。此时用手摸主芯片,发现温度很高。更换主芯片后试机,故障排除。提示:该机易出现死机、自动关机、不开机等故障,原因多为主芯片损坏,或者热机后过孔开路。

       例7:55E680F型机(8K55机芯),不开机。分析检修:通电试机,发现RW2冒烟,说明有短路存在,且极可能是主芯片内部短路。更换主芯片后故障依旧。5V经过电阻RW2限流,再经U12转换,输出3.3V给功放、EMMC、EEPROM.SD卡等供电,测得3.3V短路,将负载的供电电感都断开,发现还是短路,判断U12及外围元件有问题,更换电容CB41后故障排除。

       例8:32E680F型机(8K55机芯),不开机。分析检修:查看该机打印信息,显示如下:

       根据以上信息得知,DDR检测失败。检查DDR供电、基准电压均正常,更换主芯片后试机,故障排除。总结:本例故障在检修时借助打印信息进行辅助判断比较直观,还有一部分存在过孔问题。

       例9:42E510E型机(8S51机芯),不开机。分析检修:查看该机打印信息,只显示"UART 115200"- -行。此现象说明系统没有工作,测各芯片的供电,3.3V.5V、1.1V均正常,而U117的供电输出只有0.75V(正常值为1.35V)。断开后级电感,故障依旧,判断U117电路有问题。检查U117的12V供电、使能信号、取样电阻都正常,判断U117损坏。更换U117后试机,故障排除。告例10:55E510E型机(8S51机芯),二次开机困难。分析检修:查看该机打印信息,显示如下:

       RT_ 115200

      [AT][MB][start sb][0]

      AC_ ON

     AutoDQSO -[456789ABCD] [456789ABCDE]

     [23456789ABC][123456789ABC]-[Ox6798]

     AutoDQS1 -[456789ABC][56789ABC][23456789ABC][23456789AB]-[0x6788]

     BIST0-OK

     BIST1-OK_REU[AT][MB][start ub][308].....*中间部分省略Get MAC from ethaddr env

     MAC:

     根据上述信息分析得知,DDR检测正常,EMMC检测异常。测量各芯片的供电均正常,程序也没问题。用电阻法测得EMMC的两个偏置电阻对地有漏电现象,断开电阻R233、R235之间的铜箔,用跳线连接起来,如图1所示。通电试机,故障排除。