为了快速判别此类器件的好坏，我们自行设计了多种电子器件测量仪，从机器上焊下器件或新购上机使用的器件，经过此测量仪相应的测试，就可判断出器件的好坏。对保障整机的运行很有意义。下图为测量仪原理图。
一、电路原理
当合上开关K时，220V交流电经过变压器B输出15V交流电压，然后经D1～D4桥式整流，C1电解电容滤波，再经过7812稳压输出+12V，作为本电路的工作电源。该电路是以NE555时基电路为核心组成多谐振荡器，用来控制被测器件导通和关闭。当+12V电源供给NE555时，由于电容C3上的电压不能突变，即NE555②、⑥脚为低电平，则③脚输出高电平。+12V电源经R1、RW向电容C3充电，当NE555②、⑥脚电位达到电源电压三分之二时，NE555③脚输出电平由高变为低，工作指示发光二极管V2导通发光，此时测试固态、电磁、光耦继电器和可控硅的输入端或线包应呈导通状态。
与此同时，NE555⑦脚内部放电管导通，C3开始放电，当C3两端电压降至电源电压的三分之一时，NE555的③脚输出又变为高电平，固态、电磁、光耦继电器和可控硅的输入端或线包应呈截止状态。周而复始，循环交变。
图中S为普通电源开关。J为小型电源变压器，交流次级输出为15V即可。D1～D4为整流桥或四只整流二极管。N1隐压集成块为LM7812。电解电容C1为1000uF／25V，C2为100uF／16V，C3为100uF／16V，C4为0.1uF。N2为时基电路NE555，R1为5．6k，限流电阻R2～R16为1k，R17为120Ω，RW1为100k，RW2为4.7k，V1～V13为高亮度发光二极管，S1为双刀双掷开关，用来控制交、直流被测器件。
二、测试方法
本测试仪用来测量交／直流固态、电磁、光耦继电器、交／直流可控硅，在交流220V市电电源开关K接通后，经桥式整流、滤波、稳压电路后输出+12V电压，V1发光指示。测量时接通电源输出+12V直流电压。
1．测试光耦
光耦4N25有6个脚，①、②脚是输入端(①接正②接地)，④脚和⑤脚是输出端(④脚接地、⑤脚接高电位)，测量时将其插到相应的管座上，接通电源开关S，电源指示发光二极管V1发光。时基电路NE555输出低电平V2发光，进入工作状态，正常时4N25输入电路导通，V3发光，时基电路NE555输出高电平，4N25输入电路截止，V3不发光。所测结果反之，则表明4N25损坏。测⑥脚光耦4N35、4N36、TIL117同理。
2．测试2GO3D
这种光耦有8个脚，是两个光电耦合器件，①、②脚和③、④脚分别是两组输入端，⑧、⑦脚和⑥、⑤脚分别是两组输出端(②、⑦、④、⑤接地端，①、⑧、③、⑥接正电压端)。被测元件插上后，时基电路NE555输出低电平V2发光，2G03D光耦输入电路导通，若V4和V5都发光，说明2G03D光耦正常，若V4和V5两个都不发光或者有一个不发光，说明元件损坏或部分损坏。时基电路NE555输出高电平，2GO3D光耦输入电路截止，V4和V5两个都不发光，说明2GO3D完好，若V4和V5两个都发光或者有一个发光，说明2GO3D损坏或部分损坏，必须将其更换。2GO3D光耦测试插座也可测④脚光耦PC817，将其插入相应的管脚，如①、②、③、④插到①、②、⑦、⑧位置上。
3．测试继电器
小型电磁继电器JRC-19F／012M，线包电压+12V，继电器具备两组常开接点和两组常闭接点，当测量此器件时，先插上JRC-19F，时基电路NE555输出低电平V2发光，进入工作状态后，若V8和V9都亮，说明此继电器吸合正常：若V8或V9不亮，说明对应的接点没有吸合上，若两个指示灯都不亮，而V6、V7都亮，证明两组接点吸合不好或线包损坏。时基电路NE555输出高电平，V6、V7都亮，说明继电器释放良好，若V6、V7都不发光或只有一个发光，说明不释放或部分不释放。
4．测试固态继电器
固态继电器(如JGX-2F)是一种无触点电子开关，一般施加输入信号后，其输出端呈导通状态，无输入信号时，输出呈阻断状态。它也是一种光电耦合器件，分为直流固态继电器和交流固态继电器，直流输出固态继电器的测量与4N25的测量方法雷同。
5．测试交流固态继电器
交流固态继电器SSR(如BT136 MAC-100)，输入端接+12V电源，输出端接交流220V控制回路，这里用交流15V电压与两个发光二极管V12、V13，分别代替交流220V和负载，使操作人员能安全地进行测试。
测量时将固态继电器插入相应的自制管座(因为固态继电器是四脚器件，一定不要插错位置，否则会损坏器件)，时基电路NE555输出低电平V2发光，进人工作状态后，交流固态继电器SSR输入电路导通，发光二极管V12、V13都发光。
时基电路NE555输出高电平，交流固态继电器SSR输入电路截止V12、V13都不亮，说明交流固态继电器SSR工作正常。反之为此元件损坏。直流固态继电器SSR测试方法相同，但K1开关要打向直流端。交、直可控硅的测试方法相似。
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